展示情報

カールツァイス株式会社

出展者名 カールツァイス株式会社
英文社名 Carl Zeiss Co., Ltd.
小間番号 A-322
住所

〒102-0083

東京都

千代田区麹町二丁目10番9号

Address

2-10-9 Koji-machi, Chiyoda-ku, Tokyo 102-0083 Japan

ホームページURL http://www.zeiss.co.jp/imt
メールアドレス
電話番号 0570-02-1310
Telephone +81-570-02-1310
PR文 金型・プレス業界のニーズに弊社の測定ソリューションがどのようにお応えできるのかをテーマにディメンショナルX線CT装置、3Dスキャナ、非接触面歪測定機、リバースエンジニアリング用ソフトウェア、測定データ管理システム等の各種製品をご紹介いたします。
代表的な出展製品

ディメンショナルX線CT装置:METROTOM、3Dスキャナ:GOM Scan 1、非接触面歪測定機:ZEISS ABIS II、リバースエンジニアリングソフトウェア:ZEISS Reverse Engineering、測定データ管理システム:ZEISS PiWeb
出展製品[1] ディメンショナルX線CT装置 ZEISS METROTOM
出展製品詳細[1]

従来の測定機種では測定が難しい箇所も測定が可能な計測用X線CT装置
出展製品[2] 高速X線CT検査装置 ZEISS VoluMax
出展製品詳細[2]

国内で唯一実績のあるインライン全数検査CT装置
出展製品[3] 高速X線透過検査装置 ZEISS Bosello
出展製品詳細[3]

欧州No.1の実力を誇る高速X線透過検査装置
出展製品[4] リバースエンジニアリング用ソフトウェア ZEISS REVERSE ENGINEERING
出展製品詳細[4]

点群やSTLから高精度なCADデータを作成するリバースエンジニアリングソフトウェア
出展製品[5] 測定データ管理システム ZEISS PiWeb
出展製品詳細[5]

ZEISS PiWebは品質データ管理のための拡張性の高いITソリューションです。Industry 4.0で生みだされる情報の流れを整理し、様々な測定値を意味のあるデータへ変換します。
出展製品[6] 新エントリークラス3Dスキャナ GOM Scan 1
出展製品詳細[6]

実績のあるGOMのエントリークラスの新製品
出展製品[7] プレス/ボディの外観不良自動検出システム ZEISS ABIS II
出展製品詳細[7]

面上の歪みをオフライン/インライン上で簡単・迅速に、スキルレスで検知するすぐれたシステムです。
出展カテゴリ

K. 精密測定機器・光学測定機器

各種測定器

三次元測定器

形状・あらさ測定機器

自動精密測定機器